Измерение толщины тонких пленок методом рентгеноструктурного анализа / К. А. Кузнецов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кузнецов, К. А. |
| Опубликовано: | Москва : НИАТ , 1980 |
| Физические характеристики: |
23, [1] с. : граф., схемы, табл. ; 29 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Труды Института
№ 395 |
Загрузка