|
|
|
|
|
00000cam2a22000001ij4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr13428090000 |
| 005 |
20180905190459.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20070303d1980 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a SU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Измерение толщины тонких пленок методом рентгеноструктурного анализа
$f К. А. Кузнецов
$g [редактор Э. О. Игошина]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c НИАТ
$d 1980
|
| 215 |
# |
# |
$a 23, [1] с.
$c граф., схемы, табл.
$d 29 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Труды Института
$f Научно-исследовательский институт технологии и организации производства
$v № 395
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 23 (16 назв.)
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000419961
$1 2001
$v № 395
|
| 675 |
# |
# |
$a 539.216.2
|
| 700 |
# |
1 |
$a Кузнецов
$b К. А.
|
| 702 |
# |
1 |
$a Игошина
$b Э. О.
$4 340
|
| 712 |
0 |
2 |
$3 BY-NLB-ar3362084
$a Научно-исследовательский институт технологии и организации производства
$c Москва
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20180905
$g psbo
|
