Автоматизированные информационно-измерительные системы для контроля качества поверхности оптических деталей: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.16) / ВНИИ оптико-физ. измерений

Сохранено в:
Шифр документа: 11238/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кривошеев, Г. М.
Опубликовано: М. , 1986
Физические характеристики: 14 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr13185340000
005 20070302153505.0
100 # # $a 20070302d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Автоматизированные информационно-измерительные системы для контроля качества поверхности оптических деталей  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.11.16)  $f ВНИИ оптико-физ. измерений 
210 # # $a М.  $d 1986 
215 # # $a 14 с. 
300 # # $a Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.11.16  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Кривошеев  $b Г. М.  $g Геннадий Максимович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070302  $g psbo