Послойный анализ многокомпонентных систем методом масс-спектрометрии вторичных ионов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Красюк, А. Д. |
| Опубликовано: | Киев , 1984 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr13131390000 | ||
| 005 | 20070227163236.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070227d1984 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a UA |
| 200 | 1 | # | $a Послойный анализ многокомпонентных систем методом масс-спектрометрии вторичных ионов $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (01.04.07) |
| 210 | # | # | $a Киев $d 1984 |
| 215 | # | # | $a 16 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: АН УССР, Ин-т металлофизики. Библиогр.: с. 15-16 (11 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Красюк $b А. Д. $g Александр Дмитриевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070227 $g psbo |