Физико-химические основы методов анализа чистых металлов и полупроводниковых материалов : Конспект лекций / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра производства чистых металлов и полупроводниковых материаловЧ. 2
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1970 |
| Физические характеристики: |
96 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam2a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr12654820003 | ||
| 005 | 20070220162431.0 | ||
| 010 | # | # | $d 14 к. |
| 100 | # | # | $a 20070220d1970 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 200 | 1 | # | $a Ч. 2 |
| 210 | # | # | $d 1970 |
| 215 | # | # | $a 96 с. $c черт. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 95-96 (20 назв.) |
| 461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr12654820000 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070220 $g psbo |
| 830 | # | # | $a АНД681335Ч.1;АНД681336Ч.2; |