Исследование полупроводников с повышенным разрешением в растровом электронном микроскопе: (01.04.04): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / [МГУ]. Физ. фак.

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ315517,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Комолова, Л. Ф.
Опубликовано: М. : Изд-во Моск. ун-та , 1977
Физические характеристики: 16 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr12543830000
005 20070220161001.0
021 # # $a RU  $b [77-13726а] 
100 # # $a 20070220d1977 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование полупроводников с повышенным разрешением в растровом электронном микроскопе  $e (01.04.04)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f [МГУ]. Физ. фак. 
210 # # $a М.  $c Изд-во Моск. ун-та  $d 1977 
215 # # $a 16 с.  $c граф. 
300 # # $a Список работ авт. в конце текста (10 назв.) 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Комолова  $b Л. Ф.  $g Людмила Федоровна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070220  $g psbo