Электронно-микроскопическое исследование дефектов кристаллов, растущих в аморфных пленках: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ473558,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Колосов, В. Ю.
Опубликовано: Свердловск , 1982
Физические характеристики: 23 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr12469750000
005 20070216140142.0
100 # # $a 20070216d1982 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронно-микроскопическое исследование дефектов кристаллов, растущих в аморфных пленках  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.07) 
210 # # $a Свердловск  $d 1982 
215 # # $a 23 с. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Урал. науч. центр, Ин-т физики металлов. Специализир. совет. Библиогр.: с. 22-23 
675 # # $a 539.25 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Колосов  $b В. Ю.  $g Владимир Юрьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070216  $g psbo