Влияние собственных точечных дефектов и водорода на свойства приповерхностных слоев полупроводников в условиях ионно-плазменной обработки: (05.27.01): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. акад. наук, Ин-т пробл. технологии микроэлектроники и особочистых материалов

Saved in:
Шифр документа: 157711/92,
Format: Thesis abstracts
Main Author: Ковешников, С. В.
Published: пос. Черноголовка (Моск. обл.) , 1992
Physical Description: 18 с.
Language: Russian

ОФХ отдела книгохранения

All : 1 , available: 1 Available  Place a Hold

Information about the copies

Shifr Fond Holding place Copy status Reading room
157711/92 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:72 AVAILABLE Рекомендованный ЧитЗал