Позитронная диагностика халькогенидных стеклообразных полупроводников: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кобрин, Б. В. |
| Опубликовано: | М. , 1985 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr12164150000 | ||
| 005 | 20070208165256.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070208d1985 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Позитронная диагностика халькогенидных стеклообразных полупроводников $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.07) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1985 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Ин-т хим. физики АН СССР. Библиогр.: с. 21-22 (7 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Кобрин $b Б. В. $g Борис Владимирович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070208 $g psbo |