Электронографическое исследование окислов ванадия, ниобия и тантала в тонких пленках: (01.04.18): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Клечковская, В. В. |
| Опубликовано: | М. , 1973 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr12067970000 | ||
| 005 | 20070208163901.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [73-24148а] |
| 100 | # | # | $a 20070208d1973 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Электронографическое исследование окислов ванадия, ниобия и тантала в тонких пленках $e (01.04.18) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН СССР. Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова |
| 210 | # | # | $a М. $d 1973 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 21-22 |
| 686 | # | # | $a 01.04.18 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Клечковская $b В. В. $g Вера Всеволодовна |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070208 $g psbo |