Исследование и разработка технологических методов повышения качества и надежности СВЧ транзисторов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.12.18)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Клейнфельд, Ю. С. |
| Опубликовано: | М. , 1983 |
| Физические характеристики: |
26 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr12042430000 | ||
| 005 | 20070207135256.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070207d1983 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование и разработка технологических методов повышения качества и надежности СВЧ транзисторов $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.12.18) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1983 |
| 215 | # | # | $a 26 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Моск. ин-т радиотехники, электроники и автоматики. Библиогр.: с. 24-26 (25 назв.). Для служеб. пользования |
| 675 | # | # | $a 621.382.3 |
| 686 | # | # | $a 05.12.18 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Клейнфельд $b Ю. С. $g Юрий Сергеевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070207 $g psbo |