Стабильность термометрических характеристик полупроводниковых диодов при криогенной температуре

Сохранено в:
Шифр документа: 442567,
Вид документа: Книги
Автор: Ким Ун Се
Опубликовано: Дубна , 1991
Физические характеристики: 8 с. : ил., табл.
Язык: Русский
Серия: Сообщ. Объед. ин-та ядер. исслед. P8-91-173
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr11910180000
005 20170311164217.0
010 # # $d 23 к. 
100 # # $a 20070206d1991 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Стабильность термометрических характеристик полупроводниковых диодов при криогенной температуре 
210 # # $a Дубна  $d 1991 
215 # # $a 8 с.  $c ил., табл. 
225 2 # $a Сообщ. Объед. ин-та ядер. исслед.  $v P8-91-173 
300 # # $a Библиогр.: с. 8 (11 назв.) 
345 # # $9 275 экз. 
610 0 # $a Диоды полупроводниковые 
610 0 # $a Криогенная техника 
675 # # $a 621.382.2 
700 # 1 $a Ким Ун Се 
701 # 1 $a Дацков  $b В. И. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070206  $g psbo