Исследование и разработка способа учета матричного эффекта при рентгенофлуоресцентном анализе вещества: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.16) / АН УзССР, Ин-т ядер. физики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ким, В. Б. |
| Опубликовано: | Ташкент , 1986 |
| Физические характеристики: |
19 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||