ЭПР - томография дефектов в полупроводниках и диэлектриках, облученных ядерными частицами: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07) / АН КазССР, Ин-т ядер. физики

Сохранено в:
Шифр документа: 33165/87СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ким, А. А.
Опубликовано: Алма-Ата , 1987
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr11900250000
005 20070206182251.0
100 # # $a 20070206d1987 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a KZ 
200 1 # $a ЭПР - томография дефектов в полупроводниках и диэлектриках, облученных ядерными частицами  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.07)  $f АН КазССР, Ин-т ядер. физики 
210 # # $a Алма-Ата  $d 1987 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 18-20 (11 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ким  $b А. А.  $g Александр Афанасьевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070206  $g psbo