Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂): Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии

Сохранено в:
Шифр документа: АУ218888СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Имамов, Р. М.
Опубликовано: М. , 1965
Физические характеристики: 11 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr11075380000
005 20070115140139.0
021 # # $b [65-36569] 
100 # # $a 20070115d1965 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂)  $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата физ.-мат. наук  $f АН СССР. Ин-т кристаллографии 
210 # # $a М.  $d 1965 
215 # # $a 11 с. 
700 # 1 $a Имамов  $b Р. М. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070115  $g psbo