Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂): Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Имамов, Р. М. |
Опубликовано: | М. , 1965 |
Физические характеристики: |
11 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr11075380000 | ||
005 | 20070115140139.0 | ||
021 | # | # | $b [65-36569] |
100 | # | # | $a 20070115d1965 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂) $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени кандидата физ.-мат. наук $f АН СССР. Ин-т кристаллографии |
210 | # | # | $a М. $d 1965 |
215 | # | # | $a 11 с. |
700 | # | 1 | $a Имамов $b Р. М. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070115 $g psbo |