Методы построения тестовых последовательностей для константных и временных неисправностей элементов цифровых устройств на основе их статического и динамического функционального моделирования: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / АН Украины, Ин-т пробл. моделирования в энергетике
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Ильченко, С. Н. |
Опубликовано: | Киев , 1991 |
Физические характеристики: |
21 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|