Методы построения тестовых последовательностей для константных и временных неисправностей элементов цифровых устройств на основе их статического и динамического функционального моделирования: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / АН Украины, Ин-т пробл. моделирования в энергетике
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Ильченко, С. Н. |
Опубликовано: | Киев , 1991 |
Физические характеристики: |
21 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr11063760000 | ||
005 | 20070115140040.0 | ||
021 | # | # | $b [92-325а] |
100 | # | # | $a 20070115d1991 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Методы построения тестовых последовательностей для константных и временных неисправностей элементов цифровых устройств на основе их статического и динамического функционального моделирования $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.13.05) $f АН Украины, Ин-т пробл. моделирования в энергетике |
210 | # | # | $a Киев $d 1991 |
215 | # | # | $a 21 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 18-20 (15 назв.) |
686 | # | # | $a 05.13.05 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Ильченко $b С. Н. $g Сергей Николаевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070115 $g psbo |