Методы построения тестовых последовательностей для константных и временных неисправностей элементов цифровых устройств на основе их статического и динамического функционального моделирования: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / АН Украины, Ин-т пробл. моделирования в энергетике

Сохранено в:
Шифр документа: 155069/91,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ильченко, С. Н.
Опубликовано: Киев , 1991
Физические характеристики: 21 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr11063760000
005 20070115140040.0
021 # # $b [92-325а] 
100 # # $a 20070115d1991 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Методы построения тестовых последовательностей для константных и временных неисправностей элементов цифровых устройств на основе их статического и динамического функционального моделирования  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05)  $f АН Украины, Ин-т пробл. моделирования в энергетике 
210 # # $a Киев  $d 1991 
215 # # $a 21 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 18-20 (15 назв.) 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ильченко  $b С. Н.  $g Сергей Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070115  $g psbo