|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr10886920000 |
| 005 |
20171214091248.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 15 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [87-20071]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070104d1986 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы анализа структуры и элементного состава материалов электронной техники
$e Лаб. практикум
$f С. А. Иванов, Э. Г. Павлюк, Г. Н. Платонов
$g Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова-(Ленина)
|
| 210 |
# |
# |
$a Л.
$d 1986
|
| 215 |
# |
# |
$a 80 с.
$c рис.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 78-79 (10 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Рентгенография
|
| 610 |
0 |
# |
$a Монокристаллы - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 548.73
|
| 700 |
# |
1 |
$a Иванов
$b С. А.
$g Станислав Алексеевич
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070104
$g psbo
|
