Разработка методов и аппаратуры для эллипсометрического контроля параметров полупроводниковых эпитаксиальных структур и диэлектрических покрытий: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10) / Моск. ин-т электрон. техники

Сохранено в:
Шифр документа: 36735/87СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Зудков, Н. М.
Опубликовано: М. , 1987
Физические характеристики: 29 с.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
36735/87СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:68 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал