Структурно-функциональный анализ стабильности и методы повышения точности электронных измерительных устройств: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.11.16) / ВНИИ оптико-физ. измерений
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Загорский, Я. Т. |
Опубликовано: | М. , 1990 |
Физические характеристики: |
40 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|