Структурно-функциональный анализ стабильности и методы повышения точности электронных измерительных устройств: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (05.11.16) / ВНИИ оптико-физ. измерений
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Загорский, Я. Т. |
| Опубликовано: | М. , 1990 |
| Физические характеристики: |
40 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr10342040000 | ||
| 005 | 20061128165442.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20061128d1990 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Структурно-функциональный анализ стабильности и методы повышения точности электронных измерительных устройств $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук $e (05.11.16) $f ВНИИ оптико-физ. измерений |
| 210 | # | # | $a М. $d 1990 |
| 215 | # | # | $a 40 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 31-40 (104 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.11.16 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Загорский $b Я. Т. $g Яков Теодорович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20061128 $g psbo |