Вопросы надежности полупроводниковых запоминающих устройств

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ411452, М155997,
Вид документа: Книги
Автор: Жуков, Е. И.
Опубликовано: Л. : ЛДНТП , 1981
Физические характеристики: 23 с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Серия: Сер. «Новое в конструировании и технологии радиоэлектрон. аппаратуры»
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr10208980000
005 20140503162719.0
010 # # $d 13 к. 
021 # # $a SU  $b [81-52382] 
100 # # $a 20061120d1981 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Вопросы надежности полупроводниковых запоминающих устройств 
210 # # $a Л.  $c ЛДНТП  $d 1981 
215 # # $a 23 с.  $c ил.  $d 22 см 
225 2 # $a Сер. «Новое в конструировании и технологии радиоэлектрон. аппаратуры»  $f Ленингр. дом науч.-техн. пропаганды 
300 # # $a Библиогр.: с. 22 (7 назв.) 
345 # # $9 3100 экз. 
610 0 # $a Цифровые вычислительные машины - Запоминающие устройства полупроводниковые - Надежность 
675 # # $a 681.327.67-192 
700 # 1 $a Жуков  $b Е. И.  $g Евгений Иванович 
701 # 1 $a Хавкин  $b В. Е.  $g Владимир Ефимович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061120  $g psbo