Анализ концентрационных неоднородностей сложнолегированных промышленных материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (01.04.07) / АН УССР, Ин-т металлофизики

Сохранено в:
Шифр документа: 54912/86,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Жуков, А. Г.
Опубликовано: Киев , 1986
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr10200910000
005 20061120182718.0
021 # # $b [87-8623а] 
100 # # $a 20061120d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Анализ концентрационных неоднородностей сложнолегированных промышленных материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (01.04.07)  $f АН УССР, Ин-т металлофизики 
210 # # $a Киев  $d 1986 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19-20 (14 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Жуков  $b А. Г.  $g Александр Георгиевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061120  $g psbo