Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: защищена в июле 2004 г.: утверждена 20.10.04: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Gespeichert in:
| Format: | |
|---|---|
| 1. Verfasser: | Кутавичюс, В. П. |
| Veröffentlicht: | Минск , 2004 |
| Beschreibung: |
106 л.
|
| Sprache: | Русский |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: |
E-документ
|
ОФХ диссертаций
| Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||