Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: защищена в июле 2004 г.: утверждена 20.10.04: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Кутавичюс, В. П. |
| Апублікавана: | Минск , 2004 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
106 л.
|
| Мова: | Руская |
| Прадмет: | |
| Е-дакумент: |
E-дакумент
|
ОФХ диссертаций
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||