Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: защищена в июле 2004 г.: утверждена 20.10.04: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кутавичюс, В. П. |
| Опубликовано: | Минск , 2004 |
| Физические характеристики: |
106 л.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: | |
| Е-документ: |
E-документ
|
ОФХ диссертаций
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||