Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов / [В. П. Гольцев и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Минск : Наука и техника , 1980 |
| Физические характеристики: |
189, [2] с. : ил., табл. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 3 , доступно: 3 | Доступно Заказать | ||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||||||||||||