Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.27.01: 18.11.2004 / Стемпицкий Виктор Романович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Стемпицкий, В. Р. (род. 1978) |
| Опубликовано: | Мн. , 2004 |
| Физические характеристики: |
21 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: | |
| Е-документ: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||