Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Autor principal: | Кутавичюс, В. П. |
| Publicado: | Мн. , 2004 |
| Descripción Física: |
20 с.
|
| Lenguaje: | Русский |
| Materias: | |
| Acceso en línea: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Hacer reserva | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||