Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / Кутавичюс Виталий Пранасович

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад106792, 2Ад106793,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кутавичюс, В. П.
Опубликовано: Мн. , 2004
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
Предмет:
ОПТИКА
ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ
СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
АПТЫЧНЫЯ ЎЛАСЦІВАСЦІ
ТОНКІЯ ПЛЁНКІ
СПЕКТРАФОТАМЕТРЫЯ
СПЕКТРАМЕТРЫЧНЫЯ МЕТАДЫ
ІНТЭРФЕРАМЕТРЫЧНЫЯ МЕТАДЫ
ОПТЫКА
Е-документ: E-документ

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2Ад106792 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:78 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
2Ад106793 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:78 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал

Схожие документы