Оптические методы измерения рельефа поверхности в микронном диапазоне / Галкин А.А., Есьман С.С., Кравченко В.И. и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Киев , 2003 |
| Физические характеристики: |
38 с. ; 20 см.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
1 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||