Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Кривоносов Юрий Станиславович

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад89497,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Кривоносов, Ю. С.
Опубликовано: М. , 2003
Физические характеристики: 21 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br479278
005 20070615192145.2
100 # # $a 20030512d2003 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a ru 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.07  $f Кривоносов Юрий Станиславович  $g [Ин-т кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН] 
210 # # $a М.  $d 2003 
215 # # $a 21 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 20-21 (12 назв.). 
686 # # $a 29.19.03  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.16  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-562204  $a Кривоносов  $b Ю. С.  $g Юрий Станиславович  $c кандидат физико-математических наук 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20030512  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo