Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 / Чжу Шичю

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад63170,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Чжу, Ш.
Опубликовано: М. , 2001
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br385033
005 20070615191522.8
100 # # $a 20020215d2001 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.04  $f Чжу Шичю  $g Моск. гос. ун-т им. М.В.Ломоносова, Физ. фак. 
210 # # $a М.  $d 2001 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 16-18 (11 назв.). 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.03.05  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.09.29  $2 rugasnti 
686 # # $a 59.45  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.19  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.04  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-509386  $a Чжу  $b Ш.  $g Шичю 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20020215  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo