Podobne zapisy

• Прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметров: Дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.27.01: Защищена 22.01.2002: Утв. 12.03.2003 / Стасюк Дмитрий Михайлович. - Мн., 2001
  od: Стасюк, Д. М.
  Wydane: (2001)
• Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе информативных параметров : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1976 гг.) / [П. С. Гамлявый и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 93, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 1)
  od: Гамлявый, П. С.
  Wydane: (1979)
• Прогнозирование постепенных отказов биполярных транзисторов методом имитационных воздействий: Дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.27.01: Защищена 12.02.04: Утв. 05.07.04 / Щерба Александр Иванович. - Мн., 2003
  od: Щерба, А. И.
  Wydane: (2003)