Моделирование влияния внешних и технологических факторов на электрофизические свойства твердотельных слоистых структур интегральной электроники: Дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 ; 05.27.01: 21.05.1999: 26.01.2000 / Бел. гос. ун-т

Сохранено в:
Шифр документа: 26Ад2344,
Вид документа: Диссертации
Автор: Борздов, В. М. (род. 1954)
Опубликовано: Мн. , 1999
Язык: Русский
Предмет:
Е-документ: E-документ
00000cam0a22000004id4500
001 BY-NLB-br274276
005 20190520150105.0
100 # # $a 20000927d1999 u y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a by 
105 # # $a y 000yy 
106 # # $a h 
109 # # $a aa  $a ab 
200 1 # $a Моделирование влияния внешних и технологических факторов на электрофизические свойства твердотельных слоистых структур интегральной электроники  $e Дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук  $e 01.04.07 ; 05.27.01  $e 21.05.1999  $e 26.01.2000  $f Бел. гос. ун-т 
210 # # $a Мн.  $d 1999 
300 # # $a Библиогр.: л. 234-261 (361 назв.) 
606 0 # $3 BY-NLB-ar32976  $a ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18370  $a МИКРОЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar45117  $a НАНОЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar39284  $a ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar32977  $a ЦВЕРДАЦЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНІКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18371  $a МІКРАЭЛЕКТРОНІКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar45118  $a НАНАЭЛЕКТРОНІКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar39285  $a ЭЛЕКТРАФІЗІЧНЫЯ ЎЛАСЦІВАСЦІ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11906  $a ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11907  $a ІНТЭГРАЛЬНЫЯ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
615 # # $a Белорусский национальный документ 
675 # # $a 621.382.049.77(043.3)  $v 3  $z rus 
686 # # $a 47.33.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.07  $2 nsnrrb 
686 # # $a 05.27.01  $2 nsnrrb 
700 # 1 $3 BY-SEK-324538  $a Борздов  $b В. М.  $g Владимир Михайлович  $f род. 1954 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20000927  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo 
856 4 # $u http://content.nlb.by/content/dav/nlb/DDC/DD/26Ad2344.pdf