VII Международная конференция по микроэлектронике "Microelectronics' 90" : (материалы конференции), [16―18 октября 1990 г. : в 4 т.]. Т. 1 : Материалы микроэлектроники. Диагностика материалов и изделий микроэлектроники, вопросы качества и безотказности элементов и схем
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
307 с. : ил., табл.
|
| Язык: | Русский Английский |
| Предмет: |
Загрузка