Моделирование влияния внешних и технологических факторов на электрофизические свойства твердотельных слоистых структур интегральной электроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 ; 05.27.01 / БГУ
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Борздов, В. М. (род. 1954) |
| Опубликовано: | Мн. , 1999 |
| Физические характеристики: |
44 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: | |
| Е-документ: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||