Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.27.01 / Всерос. электротехн. ин-т им. В.И.Ленина
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Айрапетян, В. К. |
| Опубликовано: | М. , 1994 |
| Физические характеристики: |
28 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||