Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: 05.13.05 ; 05.27.01 / Гос. инж. ун-т Армении

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад23223,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Варданян, Р. Р.
Опубликовано: Ереван , 1993
Физические характеристики: 31 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br162046
005 20070615190555.7
100 # # $a 19930101d1993 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a a m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Исследование и разработка методов и устройств контроля параметров полупроводниковых структур и приборов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук  $e 05.13.05 ; 05.27.01  $f Гос. инж. ун-т Армении 
210 # # $a Ереван  $d 1993 
215 # # $a 31 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 28-31 (42 назв.) 
686 # # $a 50.09.45  $2 rugasnti 
686 # # $a 47.03.05  $2 rugasnti 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-436049  $a Варданян  $b Р. Р.  $g Рубен Рафаелович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930101  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo