Разработка и исследование автоматизированных оптико-электронных методов контроля качества заготовок микросхем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.11.07 / С.-Петерб. гос. ин-т точ. механики и оптики

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад22112,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Сунь, Ч.
Опубликовано: СПб. , 1994
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br160825
005 20070615190542.9
100 # # $a 19930101d1994 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a aa  $a ac 
200 1 # $a Разработка и исследование автоматизированных оптико-электронных методов контроля качества заготовок микросхем  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e 05.11.07  $f С.-Петерб. гос. ин-т точ. механики и оптики 
210 # # $a СПб.  $d 1994 
215 # # $a 17 с. 
686 # # $a 59.14.23  $2 rugasnti 
686 # # $a 59.41  $2 rugasnti 
686 # # $a 05.11.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-434114  $a Сунь  $b Ч.  $g Чанку 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930101  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo