Диагностика структур на основе InGaAsP/InP методом комбинационного рассеяния света: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Рос. акад. наук, Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад20022,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Якименко, И. Ю.
Опубликовано: СПб. , 1994
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br158662
005 20070615190520.4
100 # # $a 19930101d1994 u y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Диагностика структур на основе InGaAsP/InP методом комбинационного рассеяния света  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.10  $f Рос. акад. наук, Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе 
210 # # $a СПб.  $d 1994 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a Библиогр.: c. 16-17 (7 назв.) 
686 # # $a 29.33.35  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.31  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-430553  $a Якименко  $b И. Ю.  $g Игорь Юрьевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 19930101  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo