Разработка методов и средств оценки устойчивости микропроцессоров в составе РЭС при воздействии электромагнитных помех: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальности 05.27.01 Твердотельная электроника, микроэлектроника, 05.13.05 Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления / Селезнёв Игорь Львович
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Auteur principal: | Селезнев, И. Л. |
| Publié: | Минск , 1994 |
| Description matérielle: |
23 с. : ил.
|
| Langue: | Русский |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Réserver | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||