Разработка методов и средств оценки устойчивости микропроцессоров в составе РЭС при воздействии электромагнитных помех: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальности 05.27.01 Твердотельная электроника, микроэлектроника, 05.13.05 Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления / Селезнёв Игорь Львович
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Autor principal: | Селезнев, И. Л. |
| Publicado: | Минск , 1994 |
| Descripción Física: |
23 с. : ил.
|
| Lenguaje: | Русский |
| Materias: | |
| Acceso en línea: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Hacer reserva | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||