Оптические методы диагностики ионно-лучевых технологических процессов формирования тонкопленочных структур

Guardado en:
Шифр документа: 1Ба179447К, 1Ба179448К,
Formato: Книги
Autor principal: Акулич, Е. С.
Publicado: Мн. : Ин-т математики , 1999
Descripción Física: 20 с.
Lenguaje: Русский
Colección: Препринт N 3(552)
Materias:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Disponible  Hacer reserva

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Ба179447К ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:3:9 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
1Ба179448К ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:3:9 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал