Оптические методы диагностики ионно-лучевых технологических процессов формирования тонкопленочных структур

Saved in:
Шифр документа: 1Ба179447К, 1Ба179448К,
Format: Books
Main Author: Акулич, Е. С.
Published: Мн. : Ин-т математики , 1999
Physical Description: 20 с.
Language: Russian
Series: Препринт N 3(552)
Subjects:

ОФХ отдела книгохранения

All : 2 , available: 2 Available  Place a Hold

Information about the copies

Shifr Fond Holding place Copy status Reading room
1Ба179447К ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:3:9 AVAILABLE Рекомендованный ЧитЗал
1Ба179448К ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:3:9 AVAILABLE Рекомендованный ЧитЗал