|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001885478 |
| 005 |
20240226151948.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20240105d2023 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a m 000yy
|
| 109 |
# |
# |
$a ac
$a aa
|
| 200 |
1 |
# |
$a Исследование и разработка методов оценки сечения сбоя и повышения стойкости интегральных запоминающих устройств к воздействию тяжелых заряженных частиц
$e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук
$e специальность 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств
$f Смирнова Вера Петровна
$g [место защиты: Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$d 2023
|
| 215 |
# |
# |
$a 26 с.
$c ил., табл.
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 8
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar14832
$a КОСМИЧЕСКАЯ ТЕХНИКА
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar18370
$a МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar26857
$a РАДИАЦИОННОЕ ВОЗДЕЙСТВИЕ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar10789
$a ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar11906
$a ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar3341933
$a СТОЙКОСТЬ (техн.)
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar19436
$a НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar56222
$a ОЦЕНКИ МЕТОДЫ
$2 DVNLB
|
| 686 |
# |
# |
$a 2.2.2.
$2 oksvnk
|
| 686 |
# |
# |
$a 47.33.31
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 47.14.21
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 89.25.47
$v 6
$2 rugasnti
|
| 700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-ar14620116
$a Смирнова
$b В. П.
$g Вера Петровна
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20240105
$g RCR
|
