Electrical behaviour of defects at a thermally oxidized silicon surface: thesis, Technological University Eindhoven, October 1970 / by M. V. Whelan

Сохранено в:
Шифр документа: 61971-10ин,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Whelan, M. V.
Опубликовано: [S. l. : s. n. , 1970]
Физические характеристики: [6], 93 с. : іл. ; 23 см
Язык: Английский
Серия: Philips research reports 1970, № 6
Загрузка