Electrical behaviour of defects at a thermally oxidized silicon surface: thesis, Technological University Eindhoven, October 1970 / by M. V. Whelan
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Whelan, M. V. |
| Опубликовано: | [S. l. : s. n. , 1970] |
| Физические характеристики: |
[6], 93 с. : іл. ; 23 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Philips research reports
1970, № 6 |
Загрузка