|
|
|
|
|
00000nam2a22000003is4500 |
001 |
BY-NLB-br0001795527 |
005 |
20221019095247.0 |
100 |
# |
# |
$a 20221019d1968 |||y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a SU
|
105 |
# |
# |
$a y ||||000yy
|
200 |
1 |
# |
$a Фотометрические и дифференциально-фотометрические методы анализа Nl, Co, Cu, Tl, Nb и Al в металлах, сплавах и других материалах
$f составитель В. Б. Тимофеева
$g [научный редактор Н. В. Пилипюк]
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c Электроника
$d 1968
|
215 |
# |
# |
$a 51, [3] с.
$d 21 см
|
225 |
1 |
# |
$a Тематические указатели литературы
$i Серия: Технология и организация производства
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v вып. 31
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 53 (7 назв.)
|
461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000645899
$1 2001
$v Вып. 31
|
702 |
# |
1 |
$a Тимофеева
$b В. Б.
$4 220
|
702 |
# |
1 |
$a Пилипюк
$b Н. В.
$4 340
|
711 |
0 |
1 |
$3 BY-PLRB-ar13181370
$a СССР
$b Министерство электронной промышленности
|
711 |
0 |
0 |
$3 BY-NLB-ar5808666
$a "Электроника"
$g институт
$c Москва
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20221019
$g RCR
|