|
|
|
|
|
00000nam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001795517 |
| 005 |
20221019091456.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20221019d1968 |||y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a SU
|
| 105 |
# |
# |
$a y ||||001yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Измерение параметров и испытания интегральных схем
$f составители: Т. П. Япрынцева
$g [редактор В. П. Быкова]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c Электроника
$d 1968
|
| 215 |
# |
# |
$a 48, [1] с.
$d 20 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Тематические указатели литературы
$i Серия: Контрольно-измерительная техника
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v вып. 35
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 47―48
|
| 320 |
# |
# |
$a Указатель отечественной периодики: с. 42―44
|
| 320 |
# |
# |
$a Указатель зарубежной периодики: с. 45―46
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000645899
$1 2001
$v Вып. 35
|
| 702 |
# |
1 |
$a Япрынцева
$b Т. П.
$4 220
|
| 702 |
# |
1 |
$a Быкова
$b В. П.
$4 340
|
| 711 |
0 |
1 |
$3 BY-PLRB-ar13181370
$a СССР
$b Министерство электронной промышленности
|
| 711 |
0 |
0 |
$3 BY-NLB-ar5808666
$a "Электроника"
$g институт
$c Москва
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20221019
$g RCR
|
