|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
001 |
BY-NLB-br0001795194 |
005 |
20221017161017.0 |
100 |
# |
# |
$a 20221017d1969 |||y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a SU
|
105 |
# |
# |
$a y ||||000yy
|
200 |
1 |
# |
$a Методы и аппаратура для измерения параметров высокочастотных транзисторов
$f составитель Э. В. Шашкина
$g [редактор Л. И. Гулейкова]
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c Электроника
$d 1969
|
215 |
# |
# |
$a 24, [2] с.
$d 21 см
|
225 |
1 |
# |
$a Тематические указатели литературы
$i Серия: Контрольно-измерительная аппаратура
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v вып. 15 (62)
|
461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000645899
$1 2001
$v Вып. 15
|
702 |
# |
1 |
$3 BY-CNB-ar1499750
$a Шашкина
$b Э. В.
$4 220
|
702 |
# |
1 |
$a Гулейкова
$b Л. И.
$4 340
|
711 |
0 |
1 |
$3 BY-PLRB-ar13181370
$a СССР
$b Министерство электронной промышленности
|
711 |
0 |
0 |
$3 BY-NLB-ar5808666
$a "Электроника"
$g институт
$c Москва
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20221017
$g RCR
|