European integrated circuit reliability: [collected papers]
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | [S. l. : s. n. , 1983] |
Физические характеристики: |
С. [4], 607―765 : іл. ; 26 см
|
Язык: | Английский Французский |
Серия: |
Microelectronics and reliability
vol. 23, № 4 |
00000nam2a22000003is4500 | |||
001 | BY-NLB-br0001772850 | ||
005 | 20220602164550.0 | ||
010 | # | # | $a 0-08-031129-6 |
100 | # | # | $a 20220602e19831983|||y0bely50 ba |
101 | 0 | # | $a eng $a fre |
105 | # | # | $a a ||||000yy |
200 | 1 | # | $a European integrated circuit reliability $e [collected papers] |
210 | # | # | $a [S. l. $c s. n. $d 1983] |
215 | # | # | $a С. [4], 607―765 $c іл. $d 26 см |
225 | 2 | # | $a Microelectronics and reliability $x 0026-2714 $v vol. 23, № 4 |
300 | # | # | $a Выхадныя даныя арыгінала: Oxford [etc.] : Pergamon Press, 1983 |
300 | # | # | $a Тэкст на англійскай, французскай мовах |
320 | # | # | $a Бібліяграфія ў канцы артыкулаў |
461 | # | 1 | $1 001BY-NLB-br285233 $1 2001 $v 1983,Vol.23,№4 |
801 | # | 0 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20220602 $g RCR |